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AUTO-JZ010型晶振测试仪

简要描述:名称:AUTO-JZ010型晶振测试仪 规格:可定制 入箱:可定制 检测标准: 材质/级别:可定制

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  • 更新时间:0001-01-01
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产品详情
    概述:
    AUTO-JZ010型晶振测试仪是一款用来测试晶振频率、精度、漂移等指标的通用测试仪器。
    仪器采用超高精度的有源温补晶振作为时间基准;高速ECL电路进行信号的整形、放大、计数 ;单片机进行系统管理及数据处理。仪器自身带有最常用的Pierce振荡电路,可以用来直接测试35MHZ以下的无源基频晶振(超过35M的基频晶振很少)、以及100MHZ以下的泛音晶振的基频频率。另外系统留有“有源晶振”的测试接口,配备相应的附件可用来测试有源晶振;而且系统还设置了外部信号的测量通道,可以扩展作为频率计使用。
     

    功能及用途
    本仪器可直接测量35MHz以下无源晶振的频率、以及100MHz以下泛音晶振的基频频率,可满足绝大部分晶振测量的需要。(绝大多数的基频晶振频率都<35MHz,泛音晶振多为3倍泛音,)。可直接测量插脚封装晶振,配备“贴片晶振测试座”也可测量贴片封装晶振;
    另外本仪器还留有“有源晶振测试接口”,配备不同规格的“贴片晶振测试座”后可以测量5v、3.3v、1.8v供电的不同封装的有源晶振;而且还留有外部信号输入接口,可以测量其它设备的信号。
    该设备可以测量如下类型的参数:
    1.频率
    2.周期
    3.频率偏差率
    4.频率漂移率
    5.漂移监测时间
             主要技术参数:
    频率测量范围 20Hz-100Hz
    周期测量范围 1ns-10s
    采样时间(T) 0.01s,0.1s,1s,10s
    频率分辨率(R.P.) 1. T=0.01s 时R.P.=100HZ
    T=0.1s 时R.P.=10HZ
    T=1s 时R.P.=1HZ
    T=10s 时R.P.=0.1HZ
    基准频率 10MHz
    精准精度 2ppm
    测量精度 2.5倍基准精度+1 R.P.
    外部输入信号幅度 50mv-10v
    环境温度 20±15℃
    电源 100-240v、50/60Hz
    功耗 <10W

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